Микролептонный метод регистрации полей

Национальная лаборатория микролептонных исследований Г.Ф. Савельев

Основа данного метода базируется на фундаментальных физических принципах слабовзаимодействующих частиц (микролептонов).
Обнаружение дифракции в 1927 году (опыт Дэвиссона и Джермера) сыграло большую роль в подтверждении существования волн де Бройля.
По гипотезе де Бройля вещество и, прежде всего элементарные частицы, обладают волновыми свойствами.
В 1988 г были опубликованы Тезисы докладов А.Ф.Охатрина на Междисциплинароной научно-технической школе-семинаре 18-24 апреля 1988 г., часть I, стр. 32 – 35, 1988 г., г. Томск, в которых впервые в доступной печати говорилось о новом классе элементарных частиц, их свойствах, об экспериментах, которые были проведены для их обнаружения.
Волновая природа микролептонных полей позволяет, для их регистрации применять классические методы оптической регистрации.

В силу характера микролептонов и их уникальных свойств до настоящего времени существовала проблема регистрации их физическими методами.
Метод основан на физических свойствах микролептонов их волновой природе.
Классическим и наиболее изученным методом регистрации волновых структур является использование дифракционных и интерференционных методов.
Для использования таких методов требуется создание дифракционных решёток, соответствующих параметрам исследуемых полей.
Дифракционная решётка представляет собой совокупность большого числа регулярно расположенных отверстий на некоторой поверхности.
В зависимости от качества дифракционной решётки каждая точка, попадающая на матрицу цифрового сканера будет содержать изображение определенной величины, определяемое размером дифракционной решётки
При анализе существующих дифракционных решёток обнаружено их огромное количество и видов (плоские, объёмные, кристаллические, газовые, жидкие, агрегатные и др.).
Учитывая величины частот и длин волн микролептонных полей создание «материальной» решётки с такими параметрами традиционными методами не представляется возможным.

При решении задачи создания дифракционной решётки, для исследования микролептонных взаимодействий необходимо было создать решётку с размерами ячеек 10-50 нанометров, а «материальные» решётки такую задачу решить не могут.
Была создана решётка на нематериальной основе.
Первая нематериальная решётка была использована А.Ф.Охатриным и представляла собой поле генератора микролептонов на основе сублимации нафталина.
В методе регистрации полей разной природы, изложенном в данной работе в качестве такой решетки используются генераторы стоячих волн разной природы (рентгеновские, ультрафиолетовые, акустические, радиоактивное излучение, биологические, сенсорные и др.), имеющие регулируемые параметры. В широком диапазоне.
Дифракцию рентгеновских лучей исследовал Г.С.Ляпин в установке «Пинта», где нематериальная дифракционная решётка создавалась направленными противоположно потоками рентгеновского излучения.
Использование рентгеновского излучения проведённые Г.С.Ляпиным позволили с достаточной точностью получить дифракционную картину и сфокусировать рентгеновский луч. Результаты исследования приведены в книге «Исследования на энергоустановке «ПИНТА» ,М.,2013 Машинописное бюро №16.

Стоячие волны можно представить себе, как суперпозицию волн, распространяющихся в противоположных направлениях. Такой колебательный процесс возникает при интерференции нескольких когерентных волн.
В зависимости от качества дифракционной решётки каждая точка, попадающая на матрицу будет содержать изображение определенной величины, определяемое размером дифракционной решётки
При этих исследованиях большое значение имеют дифракционные решетки соответствующие параметрам волновых полей.

Рис. 1. Дифракционная волновая решётка

Рис .2. Дифракционная волновая решетка

Основу метода составляет использование аппаратуры оптического сканирования с использованием законов интерференции и дифракции.
Дифракция это универсальное волновое явление и характеризуется физическими законами при наблюдении волновых полей разной природы.
Дифракция неразрывно связана с явлением интерференции.

Само явление дифракции зачастую трактуют, как случай интерференции ограниченных в пространстве волн.
Сканирующая аппаратура регистрирует не только видимое изображение, но и невидимое глазу (инфракрасное, ультрафиолетовое, рентгеновское и др. излучения разной природы). Эти изображения содержатся в изображениях на матрице при цифровой аппаратуре и на фотопленке.

Сканируя регистрируемое излучение через дифракционную решетку, мы получаем изображение полей со свойствами приближенными к свойствам микролептонных полей и отсекаем всё остальное.
Общим свойством всех эффектов дифракции является зависимость степени её проявления от соотношения между длиной волны и размером ширины волнового фронта.
Отсюда следует, что обладающий волновыми свойства микролептон должен при рассеянии в определенных условиях давать интерференционную картину.

Рис. 3. Интерференционная картина волнового процесса

Изображение, полученное на матрице цифрового сканирующего (плоского или объемного) устройства определяется его разрешением, то есть количеством пикселей, видимых на изображении.

Растровое сканирование – это процесс измерения параметров точек изображения совокупность точек, которые выстраиваясь определенным образом, выделяют точки определённых параметров и создают выделенные объекты.

При пропускании изображения каждого пиксела через дифракционную решётку мы видим дифракцию излучения.

Рис. 4. Изображение дифракции каждого пиксела

Каждая точка в виде пиксела характеризуется многими параметрами, которые можно зарегистрировать (яркость, интенсивность, содержание красного, зеленого, синего, координаты на изображении, ширины спектра длину волны, частоту и др.).

Сканируя изображения через дифракционную решетку, мы получаем изображение полей со свойствами приближенными к свойствам микролептонных полей и отсекаем всё остальное.

Таким образом, мы регистрируем невидимое глазу изображение микролептонное поля.
Следующая операция сводится к задаче о преобразовании невидимого в видимое. На этом пути есть множество известных путей сделать видимым глазу человека с помощью известных законов природы (покраска, обводка, поляризация, инверсия и т.д.)

Алгоритм регистрации микролептонных полей разной природы осуществляется в следующем порядке:

1. Определение характера полей, подлежащих регистрации
2. Определение имеющихся полей в направлении съёмки.
   При исследовании и регистрации любых полей обязательно учитывать поля: магнитное поле Земли, Солнца, Эфира Галактики и поля Вселенной.
3. Выбор ориентации по отношению к выбранным направлениям. Исследования необходимо проводить с учетом ориентации параллельно направлений сторон света и в плоскости их.
4. Анализ содержания и качества снимков. Снимки должны не содержать Фильтров, Экранов и Зеркал
5. Выбор сканирующих устройств. Сканирующие устройства не должны быть избыточными.
6. Изготовление дифракционной решётки.
   Для Качественного исследования дифракционная решетка должна иметь ячейки близкие реальной длинны четверть волны регистрируемых излучений. Допускается ячейка в десятки раз большей величины. Качество изображения при этом будет хуже.
7. Тарирование дифракционной решётки.
   Дифракционная решетка должна иметь возможность изменения ячейки в широком диапазоне. Настройка устройств сканирования и получение дифракционных картин каждой сканированной точки на каждом снимке.
8. Настройка фотостудии и источников света.
   Освещенность съемки не должна мешать исследованию и должна быть минимальной и не создавать бликов.
9. Поиск оптимального режима регистрации.
10. Регистрация полевой картины исследуемого снимка.
    Съемка должна проводиться в два этапа: без дифракционной решётки и с решёткой, при этом не изменяется положение фотоаппарата. Желательно период между съёмками должен быть минимальным.
11. Инверсия полученных снимков
12. Извлечение из полевой картины снимка точек, соответствующих искомому полю.
    Разница снимков после инверсии даст полевую картину эксперимента.
13. Выбор метода визуализации невидимых полей.
    Визуализация невидимых полей осуществляется доступными Вам способами (инверсия, оконтуривание, создание тени и пр.)
14. Визуализация полевой картины на исследуемом участке.
15. Анализ динамики полей разной мощности.
    Определяется доступными средствами.
16. Определение зон разной концентрации полей
17. Выбор наиболее информативного режима.

Фотоплёнка или матрица цифрового аппарата в отличие от способности глаза регистрирует не только спектр видимого изображения, но и широкий спектр ультракрасного, рентгеновского и ультрафиолетового диапазона. В зависимости от этого необходимо настроить съемку на нужный диапазон для исключения разных шумов (фильтры, экраны, зеркала и др.).

При съемке необходимо предварительно определить наличие источников излучения разной природы попадающих на объект съемки и поля внешних источников. Из известных источников внешних полей, прежде всего: магнитное поле Земли, магнитное поле потока частиц от солнечных вспышек, поле эфира вселенной.
Использование оптического микроскопа позволяет только увеличить изображение и не изменяет качества полевых изображений.

Электрические поля ортогональны магнитным и являются самостоятельными. Суперпозиция этих полей исключена.
Магнитное взаимодействие на самом деле намного порядков выше электрических взаимодействий.